Voor de beste ervaring schakelt u JavaScript in en gebruikt u een moderne browser!
Je gebruikt een niet-ondersteunde browser. Deze site kan er anders uitzien dan je verwacht.

Het ontwerpen van meetsysteemanalyse-studies voor binaire metingen wordt eenvoudiger naargelang er een beter begrip is van de te meten grootheid en deze beter operationeel gedefinieerd is. Ook de analyse en interpretatie van de resultaten worden dan betrouwbaarder.

Kerngegevens van evenement Ontwerp MSA-studie voor binaire meting eenvoudiger bij beter begrip te meten grootheid
Datum 21 november 2012
Tijd 14:00
Locatie Agnietenkapel

Tashi Erdmann vergeleek en onderzocht methoden voor binaire meetsysteemanalyse (MSA) om inzicht te krijgen in hun effectiviteit. Daarbij geeft hij praktische richtlijnen voor het gebruik van verschillende methoden.

Een binaire meting classificeert objecten in twee categorieën met het doel daarmee een empirische eigenschap van de objecten te weerspiegelen, bijvoorbeeld of iets werkt of kapot is. Binaire metingen zijn onderhevig aan meetfouten. Het experimenteel onderzoeken en evalueren van meetsystemen noemt men in de industriële statistiek  meetsysteemanalyse.

Industriestandaards voor kwaliteitsbeheersing eisen dat de betrouwbaarheid van meet- en testresultaten wordt onderzocht en beheerst. Daarnaast leidt het voorkomen van onterechte afkeur tot kostenbesparingen, en het voorkomen van onterechte goedkeur tot betrouwbaardere kwaliteit. Ook buiten de industrie is binaire MSA belangrijk, zoals in vakgebieden als geneeskunde en psychologie, waar het dan bijvoorbeeld gaat om de betrouwbaarheid van diagnostische tests.

 

Dhr. T.P. Erdmann: Statistical Evaluation of Binary Measurement Systems. Promotor is dhr. prof. dr. J. de Mast.

Agnietenkapel

Oudezijds Voorburgwal 229 - 231
1012 EZ Amsterdam

Deelname

Toegang vrij